Projektbetreuer:
Diego Santa Rosa Coradini, MSc
Univ.-Prof. Dipl.-Ing. Dr.mont. Stefan Pogatscher
In situ TEM-Untersuchungen zielen auf die Analyse sehr lokaler Umwandlungen ab, wobei die Proben unter verschiedenen thermodynamischen Bedingungen durch Veränderung ihrer Temperatur untersucht wird. Die in situ Erwärmung erfolgt durch ein mikroelektronisches mechanisches System (MEMS), in unserem Fall kleine elektrothermische Chips (E-Chips), in die die Probe zur Analyse eingesetzt werden kann. Der Schwerpunkt liegt beispielsweise auf der in situ Analyse metallurgischer Reaktionen in Cu-Nanodrähten (NW), AlCu-Eutektika und Al-Crossover-Legierungen. Dabei werden Phasenumwandlung und Degradationseffekte untersucht.
Abb 2. Bright-field TEM (BFTEM) Bild von Cu Nanodrähten bei 500 °C (a) bis (g).
